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- https://orcid.org/0000-0002-3717-7104
- https://orcid.org/0000-0002-7094-5371 + +
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- Markus Schilling, Bernd Bayerlein, June Lau. (January 29th, 2024) MO: microscopy ontology. Version 1.0.0, https://w3id.org/pmd/mo/ +
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- + Arbeitsabstand + +
- + Atmosphärische Rasterelektronenmikroskopie + +
- + Atomare Auflösung + +
- + Auflösung + +
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- + Beugungsmuster + +
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- + Brennpunkt + +
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- + Fokussierter Strahl + +
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- + Rastertransmissionselektronenmikroskopie Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie + +
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- + Rastertunnelmikroskopie + +
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- + Spektrometer + +
- + Spektroskopie + +
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- + Winkel + +
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Annotation Properties
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Klassen
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- + Winkel + +
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+ 4D-Rastertransmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/4D-ScanningTransmissionElectronMicroscopy
+
+ 4D-STEM is a technique that adds an additional dimension of information, time, to STEM imaging, allowing the study of dynamic processes in materials at high spatial and temporal resolutions.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c + +
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+ Abbildungsfilterc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ImageFilter
+
+ An image filter is a device or component used in imaging systems, such as microscopy or photography, to modify the appearance of an image by selectively altering certain characteristics. Filters can be used to adjust contrast, brightness, color balance, and other image properties. They are often used to enhance specific features or to correct for distortions caused by lighting conditions or optical imperfections.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
- hat Sub-Klassen +
- + Gatan Abbildungsfilter + c + +
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+ Aberrationc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Aberration
+
+ Abweichung vom idealen oder erwarteten Verhalten, häufig im Zusammenhang mit optischen Systemen verwendet.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Chromatische Aberration + c, Sphärische Aberration + c + +
+
+ Anodec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Anode
+
+ The anode is the positively charged electrode in an electrochemical cell or other electrically driven systems. It serves as the site where oxidation occurs, meaning electrons are released from the anode, typically moving towards the cathode. In devices like batteries, the anode is where electrons are produced during the discharge process.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Elektrode + c + +
+
+ Arbeitsabstandc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/WorkingDistance
+
+ Der Arbeitsabstand wirkt sich auf die Tiefenschärfe und die Auflösung des Bildes aus.
+
+
+ Der Abstand zwischen der Objektivlinse des Elektronenmikroskops und der Probenoberfläche, wenn der Elektronenstrahl auf die Probe fokussiert wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + distance + +
+
+ Atmosphärische Rasterelektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AtmosphericScanningElectronMicroscopy
+
+ Atmospheric Scanning Electron Microscopy is a technique that allows samples to be imaged in their natural, hydrated state at atmospheric pressure. It enables the observation of biological and other hydrated specimens without the need for dehydration or coating.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rasterelektronenmikroskopie + c + +
+
+ Atomare Auflösungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AtomicResolution
+
+ Die Fähigkeit, einzelne Atome in einem Bild oder einer Struktur aufzulösen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Auflösung + c + +
+
+ Auflösungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Resolution
+
+ In verschiedenen Zusammenhängen bezieht sich die Auflösung auf den Grad der Detailgenauigkeit, die in einem Bild, einer Messung oder einer anderen Darstellung eines Objekts oder Phänomens erkennbar ist.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Atomare Auflösung + c, Energieauflösung + c, Ortsauflösung + c + +
+
+ Auger-Elektronen-Spektroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AugerElectronSpectroscopy
+
+ Auger Electron Spectroscopy (AES) is a surface analysis technique used in the field of materials science and surface chemistry. It involves the study of the interactions between high-energy electrons and atoms on the surface of a material. The process is named after Pierre Auger, who made significant contributions to the understanding of this phenomenon.
+In AES, a sample's surface is bombarded with a beam of high-energy electrons, which causes inner-shell electrons to be ejected from the atoms in the sample. These vacancies are then filled by higher-energy electrons from outer shells, leading to the emission of Auger electrons. The energy of these emitted Auger electrons is characteristic of the specific elements present in the sample and their chemical states.
+By analyzing the energy spectrum of the emitted Auger electrons, researchers can identify the elements present on the surface of the material and determine their relative concentrations. Auger Electron Spectroscopy provides valuable information about the elemental composition and chemical bonding of the top few atomic layers of a material, making it a powerful tool for studying surface properties, thin films, and interfaces in various scientific and industrial applications.
+
+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Spektroskopie + c + +
+
+ Beschleunigungsspannungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AccelerationVoltage
+
+ Die Beschleunigungsspannung bestimmt die kinetische Energie der Elektronen und beeinflusst die Auflösung und die Eindringtiefe in die Probe.
+
+
+ Diese Klasse beschreibt die Spannung, die an ein Elektronenmikroskop angelegt wird, um die von der Elektronenquelle (in der Regel eine Kathode) emittierten Elektronen auf die Probe zu beschleunigen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Spannung + c + +
+
+ Beugungsmusterc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DiffractionPattern
+
+ Das Muster von Flecken oder Banden, das auf einem Detektor entsteht, wenn Elektronen nach der Wechselwirkung mit einer kristallinen Probe gebeugt werden.
+
+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + digital entity + +
- hat Sub-Klassen +
- + Elektronenbeugungsmuster + c + +
+
+ Bildgebende Orientierungsmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/OrientationImagingMicroscopy
+
+ Orientation Imaging Microscopy is a microscopy technique used to map the crystallographic orientations of grains within a material. It is commonly applied in SEM to study the microstructural properties of polycrystalline materials.
+
+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rasterelektronenmikroskopie + c + +
+
+ Brennebenec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocalPlane
+
+ Die Ebene senkrecht zur optischen Achse eines Elektronenmikroskops, in der der Elektronenstrahl fokussiert wird, um ein Bild zu erzeugen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + area + +
+
+ Brennpunktc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocalPoint
+
+ Der Punkt, an dem der Elektronenstrahl in einem Elektronenmikroskop fokussiert wird, um ein Bild der Probe zu erzeugen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + digital entity + +
+
+ Brennweitec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocalLength
+
+ Der Abstand zwischen dem Brennpunkt (wo der Elektronenstrahl fokussiert wird) und der Linse oder Blende in einem Elektronenmikroskop.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + length + +
+
+ camera lengthc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CameraLength
+
+ Der Abstand zwischen der Probe und der Kamera, die zur Aufnahme von Bildern in einem Elektronenmikroskop verwendet wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + length + +
+
+ Chromatische Aberrationc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ChromaticAberration
+
+ Die Unfähigkeit eines Objektivs, alle Farben auf denselben Konvergenzpunkt zu fokussieren.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Aberration + c + +
+
+ Detektor Quantenausbeutec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DetectorQuantumEfficiency
+
+ Die Effizienz, mit der ein Detektor einfallende Strahlung in Nutzsignale umwandelt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Effizienz + c + +
+
+ Diffraktionc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Diffraction
+
+ Die Biegung von Elektronenwellen beim Durchgang durch eine kristalline Probe, was zur Bildung von Beugungsmustern führt, die Informationen über die Kristallstruktur liefern.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Physikalischer Prozess + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Elektronenbeugung + c, Elektronenbeugung ausgewählter Regionen + c, X-ray Diffraction Röntgenbeugung + c + +
+
+ Dreidimensionale Rekonstruktionc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/3DReconstruction
+
+ Der Prozess der Erstellung einer dreidimensionalen Darstellung eines Objekts oder einer Szene aus zweidimensionalen Bildern oder Daten.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rekonstruktion + c + +
+
+ Dynamische Fokuskorrekturc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DynamicFocusCorrection
+
+ Eine Technik, die in der Elektronenmikroskopie eingesetzt wird, um den Fokus des Elektronenstrahls kontinuierlich in Echtzeit anzupassen und so eine optimale Bildqualität zu erhalten, insbesondere bei der Abbildung unebener oder rauer Oberflächen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + analysing process + +
+
+ Dynamische Refokussierungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DynamicRefocusing
+
+ Der Prozess, bei dem der Fokus des Elektronenstrahls während der Bildgebung angepasst wird, um Änderungen der Probenhöhe oder -topografie zu kompensieren und sicherzustellen, dass die gesamte Probe im Fokus bleibt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + analysing process + +
+
+ Dynamische Transmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DynamicTransmissionElectronMicroscopy
+
+ Dynamic Transmission Electron Microscopy is a technique that uses ultrafast electron pulses to capture rapid processes in materials with nanosecond to picosecond time resolution.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + transmission electron microscopy + c + +
+
+ Effizienzc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Efficiency
+
+ Das Verhältnis von nützlichem / nutzbarem Output zum gesamten Input in einem System.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Detektor Quantenausbeute + c, Kollektoreffizienz + c + +
+
+ Einfallender Strahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IncidentBeam
+
+ Der Elektronenstrahl, der in einem Elektronenmikroskop auf die Probenoberfläche trifft und Wechselwirkungen hervorruft, die Signale für die Abbildung oder Analyse erzeugen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
+
+ Elektrodec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Electrode
+
+ An electrode is a conductor through which electric current enters or exits a substance. In the context of electrochemical systems, an electrode facilitates the transfer of electrons between a solid material and an electrolyte. Electrodes are essential components in batteries, fuel cells, electroplating, and other electrochemical processes. They play a critical role in facilitating chemical reactions and energy storage or conversion.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
- hat Sub-Klassen +
- + Anode + c, Kathode + c + +
+
+ Elektronenbeugungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronDiffraction
+
+ Das Phänomen der Beugung von Elektronenwellen beim Durchgang durch eine kristalline Probe, das Informationen über die Kristallstruktur liefert.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Diffraktion + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Rückstreuelektronenbeugung + c + +
+
+ Elektronenbeugung ausgewählter Regionenc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SelectedAreaElectronDiffraction
+
+ Selected Area Electron Diffraction is a technique used in transmission electron microscopy (TEM) to study the crystallographic orientation of small regions within a sample. By selecting a specific area of the sample and directing an electron beam onto it, diffraction patterns are generated. These patterns offer insights into the sample's crystal structure and orientation.
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+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Diffraktion + c + +
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+ Elektronenbeugungsmusterc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronDiffractionPattern
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+ Das Muster von Flecken oder Ringen, das auf einem Detektor entsteht, wenn Elektronen nach der Wechselwirkung mit einer kristallinen Probe gebeugt werden, und das zur Bestimmung der Kristallstruktur verwendet wird.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Beugungsmuster + c + +
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+ Elektronenenergieverlustspektroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronEnergyLossSpectroscopy
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+ Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) is a specialized analytical technique in the field of materials science and electron microscopy. It involves the measurement of the energy loss of electrons as they interact with a sample. EELS is commonly performed in transmission electron microscopy (TEM) setups.
+In EELS, a focused beam of high-energy electrons is directed at a sample. As these electrons pass through the material, they can lose energy through various interactions, such as inelastic scattering and excitation of inner-shell electrons. The energy loss is measured and analyzed to gain information about the sample's composition, electronic structure, and bonding characteristics.
+By studying the energy loss spectrum, researchers can identify the types of atoms present in the sample, determine their chemical states, and gather insights into the electronic properties of the material. EELS is particularly useful for investigating nanoscale materials, thin films, and interfaces, providing valuable information about their electronic and atomic structure. It is a powerful technique for understanding the behavior of materials at the nanometer scale and plays a significant role in advancing fields such as materials science, nanotechnology, and semiconductor research.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Spektroskopie + c + +
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+ Elektronenkanal-Kontrastbildgebungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronChannelingContrastImaging
+
+ Electron Channeling Contrast Imaging is a technique used in SEM or TEM to study crystallographic defects, such as dislocations, in crystalline materials. It utilizes the contrast resulting from the deviation of electron trajectories due to crystal defects.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Rasterelektronenmikroskopie + c + +
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+ Elektronenmikrosondec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronMicroprobe
+
+ Ein Analyseinstrument zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Materialien.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + electron microscope + +
- hat Sub-Klassen +
- + Elektronensonden-Mikro-Analysator + c + +
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+ Elektronensondec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronProbe
+
+ Der fokussierte Elektronenstrahl, der zur Abbildung oder Analyse in einem Elektronenmikroskop verwendet wird.
+
+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
+
+ Elektronensonden-Mikro-Analysatorc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronProbeMicroAnalyzer
+
+ Ein Instrument zur Elementaranalyse fester Materialien durch Beschuss mit einem fokussierten Elektronenstrahl.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Elektronenmikrosonde + c + +
+
+ Elektronenstrahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronBeam
+
+ Ein Strom von Elektronen, der von einer Elektronenquelle emittiert und in einem Elektronenmikroskop zur Abbildung oder Analyse auf die Probe beschleunigt wird.
+
+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
+
+ Elektronentomographc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronTomograph
+
+ Ein Instrument für die tomografische Bildgebung mit Elektronen.
+
+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Transmissionelektronenmikroskop + c + +
+
+ Elektronentomographiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronTomography
+
+ Electron Tomography is a technique that involves collecting a series of transmission electron microscopy (TEM) images from different angles to reconstruct a three-dimensional image of a sample.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + transmission electron microscopy + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Kryo-Elektronentomographie + c + +
+
+ Emissionsstromc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EmissionCurrent
+
+ Der Emissionsstrom wird normalerweise in Mikroampere (μA) oder Milliampere (mA) gemessen.
+
+
+ Der Strom der von der Elektronenquelle emittierten Elektronen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strom + c + +
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+ Energiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Energy
+
+ Die Energie wird üblicherweise in Joule (J) oder Elektronenvolt (eV) gemessen.
+
+
+ Die Fähigkeit eines physischen Systems, Arbeit zu verrichten.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Energieverlust + c, Strahlungsenergie + c + +
+
+ Energieauflösungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyResolution
+
+ Die Fähigkeit eines Detektors, zwischen verschiedenen Energieniveaus der einfallenden Strahlung zu unterscheiden.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Auflösung + c + +
+
+ Energiegefiltertes Transmissionselektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyFilteredTransmissionElectronMicroscope
+
+ Ein Transmissionselektronenmikroskop, das mit einem Energiefilter ausgestattet ist, um Elektronen bestimmter Energieniveaus zu selektieren.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Transmissionelektronenmikroskop + c + +
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+ Energieverlustc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyLoss
+
+ Der Energieverlust, den ein Teilchen beim Durchgang durch ein Medium erfährt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Energie + c + +
+
+ Energy Dispersive X-ray Spectroscopyc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
+energiedispersive Röntgenanalysec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyDispersiveXRaySpectroscopy
+
+ Energy Dispersive X-ray Spectroscopy is a technique used to analyze the elemental composition of a sample by detecting the X-rays emitted when the sample is bombarded with electrons in an electron microscope or other instrument. EDS provides information about the elements present in the sample and their relative concentrations.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Röntgen-Mikroanalyse + c + +
+
+ Extraktionsspannungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ExtractionVoltage
+
+ Die Spannung, die an die Elektronenquelle in einem Elektronenmikroskop angelegt wird, um Elektronen aus der Kathode zu extrahieren und sie auf die Probe zu beschleunigen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Spannung + c + +
+
+ Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldEmissionScanningElectronMicroscopy
+
+ Field Emission Scanning Electron Microscopy is an advanced form of SEM that uses a field emitter to produce a highly focused electron beam, enabling high-resolution imaging and surface analysis.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rasterelektronenmikroskopie + c + +
+
+ Feldemissionskanonec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldEmissionGun
+
+ A Field Emission Gun is an electron gun used in electron microscopes to produce an electron beam with extremely high brightness and coherence. It relies on the phenomenon of field emission, where electrons are emitted from a sharp emitter tip under the influence of a strong electric field. FEGs are capable of producing highly focused electron beams, leading to enhanced imaging resolution and analytical capabilities.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Kanone + c + +
+
+ Feldionenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldIonMicroscope
+
+ Ein Mikroskoptyp, der das Phänomen der Feldionisation nutzt, um Oberflächen mit atomarer Auflösung abzubilden.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Ionenmikroskop + c + +
+
+ Feldionenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldIonMicroscopy
+
+ Field Ion Microscopy is a specialized microscopy technique that uses a strong electric field to ionize atoms on the surface of a metal sample. These ionized atoms are then repelled from the surface and can be detected to create an image of the sample's surface topography at atomic resolution. FIM is especially powerful for imaging the arrangement of atoms on metallic surfaces.
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+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Ionenmikroskopie + c + +
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+ Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometriec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TimeOfFlightSecondaryIonMassSpectrometry
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+ Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) is an advanced surface analysis technique used to determine the elemental and molecular composition of solid surfaces and thin films with high sensitivity and spatial resolution. It is employed in various scientific and industrial fields, including materials science, nanotechnology, biomedicine, and semiconductor research.
+TOF-SIMS builds upon the principles of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), where a focused beam of high-energy primary ions is directed at a sample's surface, causing the ejection of secondary ions. In TOF-SIMS, the flight time of these secondary ions is measured as they travel through a field-free region and enter a time-of-flight mass spectrometer. The mass spectrometer measures the time taken by the ions to reach the detector, which is directly proportional to their mass-to-charge ratio.
+By analyzing the flight times of the secondary ions, TOF-SIMS can determine the elemental, isotopic, and molecular composition of the sample's surface. It provides information about the presence of specific elements, chemical compounds, and molecular fragments, along with their spatial distribution. The high sensitivity of TOF-SIMS allows for the detection of trace elements and molecular species in complex samples.
+TOF-SIMS is valuable for characterizing surfaces at the nanoscale, profiling layered structures, investigating organic and inorganic materials, and studying biological specimens. Its ability to provide detailed chemical information while maintaining spatial resolution makes it an essential tool for understanding surface properties and material interactions in a wide range of applications.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Spektroskopie + c + +
+
+ Fluoreszenzmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FluorescenceMicroscopy
+
+ Fluorescence Microscopy is an optical imaging technique used to visualize biological structures and molecules that fluoresce when illuminated with specific wavelengths of light. Fluorescent molecules absorb light energy and then emit light of a longer wavelength, allowing the visualization of specific molecules or cellular components. Fluorescence microscopy is widely used in cell biology, molecular biology, and medical research.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Lichtmikroskopie + c + +
+
+ Fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocusedIonBeamScanningElectronMicroscopy
+
+ Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy is a combination of two techniques: focused ion beam (FIB) and scanning electron microscopy (SEM). FIB-SEM systems use a focused ion beam to both image and modify a sample's surface. The ion beam can be used for milling, cutting, and deposition processes, making FIB-SEM a versatile tool for materials analysis, sample preparation, and three-dimensional imaging.
+
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+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Ionenmikroskopie + c + +
+
+ Fokussierter Ionenstrahl - Rasterelektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocusedIonBeam-ScanningElectronMicroscope
+
+ Ein Zweistrahlmikroskop, das einen fokussierten Ionenstrahl mit einem Rasterelektronenmikroskop kombiniert.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Ionenmikroskop + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Helium-Ionen-Mikroskop + c + +
+
+ Fokussierter Strahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocusedBeam
+
+ Ein Elektronenstrahl, der auf einen kleinen Punkt auf der Probenoberfläche eingeengt oder fokussiert wurde.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
+
+ Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FourierTransformInfraredSpectroscopy
+
+ Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) is a powerful analytical technique used in various scientific disciplines to study the molecular composition and properties of materials. It is based on the interaction between infrared radiation and a sample, providing information about the vibrational modes of molecules.
+In FTIR spectroscopy, an infrared beam is directed through a sample, and the interaction between the radiation and the sample's molecules leads to absorption of specific infrared frequencies. Each type of molecular bond and functional group in the sample absorbs infrared radiation at characteristic frequencies, which correspond to the energies of molecular vibrations. The resulting absorption spectrum represents a fingerprint of the sample's molecular structure.
+The Fourier transform technique is used to convert the raw data obtained from the absorption measurements into a Fourier-transformed spectrum. This transformation improves the signal-to-noise ratio and enhances the accuracy of spectral analysis.
+FTIR is extensively used in a wide range of fields, including chemistry, biology, materials science, pharmaceuticals, and environmental science. It is employed for qualitative and quantitative analysis, identification of compounds, monitoring chemical reactions, and studying molecular interactions. FTIR spectroscopy provides valuable insights into molecular bonding, functional groups, and the chemical composition of substances, making it an indispensable tool in modern analytical science.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Spektroskopie + c + +
+
+ Gatan Abbildungsfilterc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/GatanImageFilter
+
+ A Gatan Image Filter refers to an image filter manufactured by Gatan, Inc., a company specializing in electron microscopy and related products. Gatan's image filters are designed for electron microscopes and electron energy loss spectroscopy (EELS) applications. These filters allow researchers to control and enhance the acquisition of electron energy loss spectra while obtaining high-resolution images of the sample under investigation.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Abbildungsfilter + c + +
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+ Glühfadenstromc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FilamentCurrent
+
+ Der Strom, der durch den Glühfaden der Elektronenkanone in einem Elektronenmikroskop fließt und den Glühfaden erhitzt, um Elektronen zu emittieren.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strom + c + +
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+ Helium-Ionen-Mikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HeliumIonMicroscope
+
+ Eine Art Mikroskop, das Helium-Ionen verwendet, um Proben mit hoher Auflösung abzubilden.
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+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Fokussierter Ionenstrahl - Rasterelektronenmikroskop + c + +
+
+ Helium-Ionen-Mikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HeliumIonMicroscopy
+
+ Helium Ion Microscopy is a microscopy technique that uses a beam of helium ions instead of electrons to interact with a sample's surface. The smaller mass of helium ions compared to electrons allows for higher resolution imaging and reduced sample damage. HIM provides high-resolution images and is often used for imaging delicate or sensitive samples.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Ionenmikroskopie + c + +
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+ Hellfeld-Transmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BrightFieldTransmissionElectronMicroscopy
+
+ Bright Field TEM is an imaging mode in transmission electron microscopy where regions of the sample that scatter electrons less appear brighter in the resulting image.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + transmission electron microscopy + c + +
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+ Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HighResolutionTransmissionElectronMicroscopy
+
+ High Resolution TEM is a technique that provides exceptionally high-resolution images of a sample's internal structure, revealing atomic-level details.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + transmission electron microscopy + c + +
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+ Hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HighResolutionTransmissionElectronMicroscope
+
+ Ein Transmissionselektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder liefert.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Transmissionelektronenmikroskop + c + +
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+ Hochwinkel-Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskop mit annularem Winkelc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HighAngleAnnularDarkFieldScanningTransmissionElectronMicroscope
+
+ Eine Art Rastertransmissionselektronenmikroskop, das gestreute Elektronen in hohen Winkeln erkennt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rastertransmissionselektronenmikroskop + c + +
+
+ Inelastische Streuungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/InelasticScattering
+
+ Inelastic scattering is a scattering process that involves the transfer of energy and momentum between the incident particle (e.g., photon, electron) and the target particle. During inelastic scattering, the energy of the scattered particle changes, and the interaction may result in various outcomes, such as excitation, emission, or other energy transfers that alter the internal state of the target particle.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Physikalischer Prozess + c + +
+
+ Ionenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IonMicroscope
+
+ Ein Mikroskop, das mit Hilfe von Ionen Bilder von Proben erzeugt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + micropscope + +
- hat Sub-Klassen +
- + Feldionenmikroskop + c, Fokussierter Ionenstrahl - Rasterelektronenmikroskop + c + +
+
+ Ionenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IonMicroscopy
+
+ Ion Microscopy refers to a group of microscopy techniques that use focused ion beams to image and analyze samples. These techniques utilize ions, such as protons or heavy ions, instead of electrons or photons to interact with the sample, providing valuable information about its composition and structure.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + microscopy process + +
- hat Sub-Klassen +
- + Feldionenmikroskopie + c, Fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskopie + c, Helium-Ionen-Mikroskopie + c + +
+
+ Ionenstrahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IonBeam
+
+ Ein Ionenstrom, der zum Mahlen oder zur Analyse verwendet wird, insbesondere bei Ionenmikroskopietechniken zur Bildgebung.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
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+ Kanonec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Gun
+
+ In the context of electron microscopy and particle acceleration, a "gun" typically refers to an electron or particle source that generates and emits the particles. In electron microscopy, an electron gun is used to generate a beam of electrons for imaging or analysis. In particle accelerators, a particle gun generates and launches particles at high speeds for various experimental purposes.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
- hat Sub-Klassen +
- + Feldemissionskanone + c + +
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+ Kathodec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Cathode
+
+ The cathode is the negatively charged electrode in an electrochemical cell or other electrical systems. It is the site where reduction occurs, leading to the acceptance of electrons from the external circuit. In batteries, for instance, the cathode is where electrons are consumed during the discharge process.
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+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Elektrode + c + +
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+ Kohärenter Strahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CoherentBeam
+
+ Ein Elektronenstrahl, bei dem die einzelnen Elektronen eine konstante Phasenbeziehung zueinander haben, was bei der Wechselwirkung mit einer Probe zu Interferenzmustern führt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
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+ Kollektoreffizienzc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CollectionEfficiency
+
+ Die Fähigkeit eines Detektors oder Systems, relevante Signale oder Daten zu erfassen und aufzuzeichnen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Effizienz + c + +
+
+ Kondensorlinsec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CondensorLense
+
+ A condenser lens is an optical element used in microscopy and other optical systems to focus and control the illumination on the sample being observed. It is positioned below the light source and directs light rays onto the specimen, making the illumination uniform and optimizing the quality of the sample's image. The condenser lens helps enhance contrast, resolution, and overall image quality by ensuring that a consistent and concentrated light beam illuminates the specimen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
+
+ Konfokale Laser-Scanning-Mikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ConfocalLaserScanningMicroscopy
+
+ Confocal Laser Scanning Microscopy (CLSM) is an optical imaging technique that enhances resolution and eliminates out-of-focus blur by using a spatial pinhole and laser illumination. A focused laser beam is scanned across the sample's surface or depth, and only the light emitted from the focal plane (or a defined section) passes through the pinhole to form an image. CLSM provides high-resolution three-dimensional images, making it popular for biological imaging and studying fluorescently labeled samples.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Lichtmikroskopie + c + +
+
+ Konvergenzwinkelc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ConvergenceAngle
+
+ Der Konvergenzwinkel beeinflusst die Schärfentiefe und die Auflösung des Bildes.
+
+
+ Der Winkel, in dem der Elektronenstrahl in einem Elektronenmikroskop auf die Probe trifft.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Winkel + c + +
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+ Kryo-Elektronentomographiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CryoElectronTomography
+
+ Cryo Electron Tomography is a form of electron tomography that is performed at cryogenic temperatures. It is used to study the three-dimensional structure of frozen-hydrated samples.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + Elektronentomographie + c + +
+
+ Kryo-Rasterelektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Cryo-ScanningElectronMicroscope
+
+ Ein Kryo-Rasterelektronenmikroskop wird in der Regel zur Abbildung biologischer Proben verwendet.
+
+
+ A type of electron microscope that operates under cryogenic temperatures.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rasterelektronenmikroskop + c + +
+
+ Kryo-Transmissionselektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CryoTransmissionElectronMicroscope
+
+ Ein Transmissionselektronenmikroskop, das bei kryogenen Temperaturen arbeitet.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Transmissionelektronenmikroskop + c + +
+
+ Lichtmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/LightMicroscope
+
+ Ein optisches Mikroskop, das sichtbares Licht verwendet, um Proben zu beleuchten und zu vergrößern.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Optisches Mikroskop + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Polarisiertes Lichtmikroskop + c + +
+
+ Lichtmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/LightMicroscopy
+
+ Die Verwendung von sichtbarem Licht zur Beobachtung und Untersuchung kleiner Objekte oder Strukturen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + optical microscopy + +
- hat Sub-Klassen +
- + Fluoreszenzmikroskopie + c, Konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie + c, Polarisationslichtmikroskopie + c + +
+
+ Mechanisches Polierenc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/MechanicalPolishing
+
+ Mechanical polishing is a material preparation technique used to enhance the surface quality and finish of a sample by removing thin layers of material through abrasion. It involves using abrasive materials, such as polishing cloths, diamond suspensions, or abrasive pastes, along with a polishing machine or device. The process typically includes several steps, each using progressively finer abrasives to achieve a smooth and mirror-like surface.
+
+During mechanical polishing, the sample is pressed against the rotating polishing medium with controlled pressure. The abrasive particles embedded in the medium gradually remove surface irregularities, scratches, and imperfections, resulting in improved flatness, clarity, and reflectivity. The process can be adjusted to target specific levels of surface roughness and precision.
+
+Mechanical polishing is commonly used in various scientific and industrial applications, such as metallography, materials science, electronics, and optics. It is an essential step before further analyses like microscopy, spectroscopy, or surface profiling, as it provides a pristine surface for accurate characterization and observation of material properties.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + manufacturing process + +
+
+ Monochromatischer Strahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/MonochromaticBeam
+
+ Ein Elektronenstrahl, der aus Elektronen mit einem engen Energiebereich besteht, der in der Regel durch Elektronenenergiefilter oder Monochromatoren erreicht wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
+
+ Monochromatorc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Monochromator
+
+ Ein optisches Gerät, das einen engen Wellenlängenbereich von Licht überträgt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
+
+ Neigungskorrekturc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TiltCorrection
+
+ Eine Korrektur, die bei Bildern von gekippten Proben in der Elektronenmikroskopie angewendet wird, um durch den Kippwinkel verursachte Verzerrungen zu kompensieren.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + analysing process + +
+
+ Oberflächenstrukturc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SurfaceStructure
+
+ Die Anordnung und die Merkmale der äußersten Schicht eines Materials.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + object + +
+
+ Optisches Mikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/OpticalMicroscope
+
+ Ein Mikroskop, das sichtbares Licht und Linsen zur Vergrößerung von Proben verwendet.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + micropscope + +
- hat Sub-Klassen +
- + Lichtmikroskop + c + +
+
+ Ortsauflösungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SpatialResolution
+
+ Die Fähigkeit eines Bildgebungssystems, feine Details in einem Objekt anzuzeigen. Sie bezieht sich auf das kleinste wahrnehmbare Detail in einem Bild.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Auflösung + c + +
+
+ Physikalischer Prozessc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PhysicalProcess
+
+ A physical process refers to a sequence of events or interactions that occur in the physical world and can be described and analyzed based on the principles of physics. These processes involve the transformation of energy, matter, or both, and they often follow established laws and theories of physics. In particular, a physical process may just occur due to natural circumstances and does not necessarily have to be induced by human activities or interactions.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + process + +
- hat Sub-Klassen +
- + Diffraktion + c, Inelastische Streuung + c + +
+
+ Pixel Sizec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PixelSize
+
+ Die Größe der einzelnen Pixel in einem digitalen Bild oder einer Anzeige.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
+
+ Polarisationslichtmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PolarizedLightMicroscopy
+
+ Polarized Light Microscopy is a technique that uses polarized light to enhance the contrast and reveal structural information in transparent samples. Light waves vibrate in specific directions, and by using polarizers to control the orientation of light waves, polarized light microscopy can highlight birefringent materials, anisotropic structures, and stress patterns within samples. This technique is valuable for studying crystalline structures, fibers, and anisotropic materials.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Lichtmikroskopie + c + +
+
+ Polarisiertes Lichtmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PolarizedLightMicroscope
+
+ Ein Mikroskop, das polarisiertes Licht zur Beobachtung und Analyse von Proben verwendet.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Lichtmikroskop + c + +
+
+ Polschuhc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PolePiece
+
+ Eine Komponente der Elektronensäule in einem Elektronenmikroskop, die den Elektronenstrahl fokussiert und auf die Probe lenkt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
+
+ Primärstrahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PrimaryBeam
+
+ Der Hauptelektronenstrahl, der von der Elektronenquelle ausgesandt und auf die Probe in einem Elektronenmikroskop gerichtet wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strahl + c + +
+
+ Quellec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Source
+
+ Die Elektronenquelle, z. B. ein Wolframfaden oder eine Feldemissionskathode, die in einem Elektronenmikroskop Elektronen emittiert.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
+
+ Rahmenscanzeitc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FrameTime
+
+ Die Zeit, die benötigt wird, um ein Einzelbild in einem Elektronenmikroskop aufzunehmen und anzuzeigen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + duration + +
+
+ Rasterelektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningElectronMicroscope
+
+ Ein Mikroskop, das Bilder einer Probe erzeugt, indem es diese mit einem fokussierten Elektronenstrahl abtastet.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + electron microscope + +
- hat Sub-Klassen +
- + Kryo-Rasterelektronenmikroskop + c, Umwelt-Rasterelektronenmikroskop + c + +
+
+ Rasterelektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningElectronMicroscopy
+
+ Scanning Electron Microscopy is a microscopy technique that uses a focused beam of electrons to scan the surface of a sample. The interaction of the electrons with the sample generates signals that provide information about the sample's topography, morphology, and composition.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + electron microscopy + +
- hat Sub-Klassen +
- + Atmosphärische Rasterelektronenmikroskopie + c, Bildgebende Orientierungsmikroskopie + c, Elektronenkanal-Kontrastbildgebung + c, Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie + c, Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie + c + +
+
+ Rastersondenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningProbeMicroscope
+
+ Ein Mikroskoptyp, der Oberflächen abbildet, indem er eine Sonde über die Probe führt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + electron microscope + +
- hat Sub-Klassen +
- + Rastertunnelmikroskop + c + +
+
+ Rastersondenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningProbeMicroscopy
+
+ Scanning Probe Microscopy encompasses various techniques, such as Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Tunneling Microscopy (STM), that use a sharp probe to scan a sample's surface. These techniques provide high-resolution images and information about surface properties on the nanometer scale.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + electron microscopy + +
- hat Sub-Klassen +
- + Rastertunnelmikroskopie + c + +
+
+ Rastertransmissionselektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTransmissionElectronMicroscope
+
+ Eine Art von Transmissionselektronenmikroskop, bei dem ein fokussierter Elektronenstrahl über die Probe gescannt wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Transmissionelektronenmikroskop + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Hochwinkel-Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskop mit annularem Winkel + c + +
+
+ Rastertransmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTransmissionElectronMicroscopy
+
+ Scanning Transmission Electron Microscopy is a technique that combines the principles of scanning and transmission electron microscopy. It allows imaging and spectroscopy with high spatial resolution.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + transmission electron microscopy + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + 4D-Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c, Rastertransmissionselektronenmikroskopie Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie + c, Ringförmige Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c, Ringförmige Hellfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c + +
+
+ Rastertransmissionselektronenmikroskopie Elektronen-Energieverlust-Spektroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTransmissionElectronMicroscopy-ElectronEnergyLossSpectroscopy
+
+ STEM-EELS combines STEM imaging with electron energy loss spectroscopy to provide information about the elemental composition and electronic structure of a sample at high spatial resolution.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c + +
+
+ Rastertunnelmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTunnelingMicroscope
+
+ Ein Mikroskop, das Quanten-Tunneling nutzt, um Oberflächen auf atomarer Ebene abzubilden.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rastersondenmikroskop + c + +
+
+ Rastertunnelmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTunnelingMicroscopy
+
+ Scanning Tunneling Microscopy is a technique that uses a conducting probe to measure the tunneling current between the probe and the sample's surface. It provides atomic-scale images of surfaces and is often used to study conductive materials.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rastersondenmikroskopie + c + +
+
+ Rekonstruktionc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Reconstruction
+
+ Der Prozess der Erstellung eines dreidimensionalen Bildes oder Modells aus zweidimensionalen Daten.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + analysing process + +
- hat Sub-Klassen +
- + Dreidimensionale Rekonstruktion + c, Tomographische Rekonstruktion + c + +
+
+ Ringförmige Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AnnularDarkFieldScanningTransmissionElectronMicroscopy
+
+ ADF STEM is a technique that utilizes a specific arrangement of detectors to create contrast in STEM images based on the scattered electrons.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c + +
+
+ Ringförmige Hellfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AnnularBrightFieldScanningTransmissionElectronMicroscopy
+
+ ABF STEM is a technique that utilizes a specific arrangement of detectors to enhance contrast in STEM images, particularly for heavy elements.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c + +
+
+ Röntgen-Mappingc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayMapping
+
+ X-ray mapping is a process that involves generating spatially resolved images of the distribution of specific elements within a sample. By collecting X-ray signals emitted or scattered from a sample at different points, an elemental map can be created, showing the varying concentrations of elements across the sample's surface.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Röntgenanalyse + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Röntgenabsorptionsspektroskopie + c, Röntgenfluoreszenz + c, Röntgenphotoelektronenspektroskopie + c + +
+
+ Röntgen-Mikroanalysec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayMicroanalysis
+
+ X-ray Microanalysis is a technique that combines microscopy and X-ray analysis to study the elemental composition of small regions within a sample. It involves focusing an electron or X-ray beam on a specific area of the sample and measuring the X-rays emitted from that area to determine the elemental composition.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Röntgenanalyse + c + +
- hat Sub-Klassen +
- + Energy Dispersive X-ray Spectroscopy energiedispersive Röntgenanalyse + c + +
+
+ Röntgenabsorptionsspektroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayAbsorptionSpectroscopy
+
+ X-ray Absorption Spectroscopy is a technique used to study the electronic and local structural properties of materials by analyzing the absorption of X-rays. It involves measuring how X-rays are absorbed by a sample at various energies, providing insights into the electronic states and chemical environments of specific elements.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Röntgen-Mapping + c + +
+
+ Röntgenabsorptionsspektroskopie im Nahbereichc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayAbsorptionNearEdgeSpectroscopy
+
+ X-ray Absorption Near Edge Spectroscopy (XANES) is a specialized technique used in the field of materials science and spectroscopy to study the electronic and structural properties of materials. It focuses on the X-ray absorption spectra of atoms within a sample, particularly the region just above the absorption edge of an element's X-ray absorption spectrum.
+In XANES, a sample is irradiated with X-rays, typically generated by a synchrotron radiation source. These X-rays are tuned to specific energy levels corresponding to the absorption edges of the elements of interest in the sample. As the X-rays are absorbed by the sample, the energy levels of the atoms are altered, leading to various transitions in their electron configurations. The resulting X-ray absorption spectrum is measured, specifically targeting the energies just above the absorption edge.
+XANES provides information about the electronic structure of the atoms within the sample, including the oxidation state, chemical bonding, and local environment of the absorbing element. The fine details of the XANES spectrum offer insights into the atomic and molecular interactions, as well as the coordination and symmetry of atoms in different chemical environments.
+This technique is widely used in various scientific fields, including chemistry, solid-state physics, and materials science. XANES helps researchers understand the properties and behavior of materials at the atomic level, making it an invaluable tool for investigating the characteristics of complex materials, catalysts, minerals, and biomolecules.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Spektroskopie + c + +
+
+ Röntgenanalysec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayAnalysis
+
+ X-ray analysis is a technique used to investigate the composition and structure of materials by exposing them to X-rays. When X-rays interact with a material, they can be absorbed, scattered, or diffracted in ways that provide information about the material's internal arrangement of atoms and its elemental composition.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + analysing process + +
- hat Sub-Klassen +
- + Röntgen-Mapping + c, Röntgen-Mikroanalyse + c + +
+
+ Röntgenemissionsspektrometer mit weicher Röntgenstrahlungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SoftXRayEmissionSpectrometer
+
+ Ein Instrument zur Analyse der Emission weicher Röntgenstrahlen aus einer Probe.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Spektrometer + c + +
+
+ Röntgenfluoreszenzc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayFluorescence
+
+ X-ray Fluorescence is a method used to determine the elemental composition of a sample by analyzing the X-rays emitted when the sample is exposed to high-energy X-rays. The X-rays emitted are characteristic of the elements present, allowing for quantitative analysis of the sample's elemental composition.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Röntgen-Mapping + c + +
+
+ Röntgenphotoelektronenspektroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayPhotoelectronSpectroscopy
+
+ X-ray Photoelectron Spectroscopy, also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is a technique used to study the surface chemistry of materials. XPS involves bombarding a sample's surface with X-rays to emit photoelectrons, which are then analyzed to determine the elemental composition and chemical states of the elements on the surface.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Röntgen-Mapping + c + +
+
+ Rücklaufzeitc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FlybackTime
+
+ Die Zeit, die der Elektronenstrahl benötigt, um nach dem Abtasten einer Zeile oder eines Bildes in einem Elektronenmikroskop in seine Ausgangsposition zurückzukehren.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + duration + +
+
+ Rückstreuelektronenbeugungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronBackscatterDiffraction
+
+ Electron Backscatter Diffraction is a microscopy technique used to analyze the crystallographic orientation and microstructure of materials. It involves directing an electron beam onto a sample's surface and measuring the backscattered electrons. By analyzing the diffraction patterns of these electrons, researchers can determine the crystallographic orientation of the material's grains.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Elektronenbeugung + c + +
+
+ Scheibe der geringsten Konfusionc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DiskOfLeastConfusion
+
+ Der Bereich in der Bildebene eines Elektronenmikroskops, in dem der Elektronenstrahl auf die kleinste Punktgröße fokussiert wird, wodurch die durch sphärische Aberration verursachte Unschärfe minimiert wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + cross section area + +
+
+ Sekundärionen-Massenspektrometriec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SecondaryIonMassSpectrometry
+
+ Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is an advanced analytical technique used to determine the elemental and isotopic composition of solid surfaces and thin films at a very high sensitivity and spatial resolution. It is widely employed in various scientific and industrial applications, including materials science, semiconductor research, and surface analysis.
+In SIMS, a focused beam of high-energy primary ions is directed at a sample's surface. The impact of these primary ions causes the ejection of secondary ions from the sample's surface. These secondary ions are then extracted, mass-separated, and detected using a mass spectrometer. The mass spectrometer measures the mass-to-charge ratios of the secondary ions, providing information about the elemental and isotopic composition of the sample.
+The sensitivity and spatial resolution of SIMS allow researchers to analyze very small areas, often down to the micrometer or nanometer scale. This makes SIMS particularly valuable for investigating surface composition, depth profiling of layered structures, and detecting trace elements in complex materials. The technique is non-destructive in its elemental analysis, which is beneficial for studying delicate samples or preserving valuable materials.
+SIMS has applications in diverse fields, including materials characterization, semiconductor device analysis, biological and medical research, and geological studies. It provides essential information about the chemical composition, structure, and distribution of elements in complex samples, contributing to advancements in materials science and various technological developments.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Spektroskopie + c + +
+
+ Sensorgrößec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ProbeSize
+
+ Die Größe der Sonde oder des Strahls, die bei Mikroskopie- oder Spektroskopieverfahren verwendet werden.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
+
+ Silizium-Driftdetektorc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SiliconDriftDetector
+
+ Eine Art Röntgendetektor, der Hochgeschwindigkeitsleistung und hohe Energieauflösung bietet.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
+
+ Sondenstromc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ProbeCurrent
+
+ Der Strom der Elektronen im fokussierten Elektronenstrahl, der zur Abbildung oder Analyse in einem Elektronenmikroskop verwendet wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strom + c + +
+
+ Spannungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Voltage
+
+ Die Spannung, auch elektrische Potentialdifferenz, ist ein Maß für die elektrische potentielle Energie pro Ladungseinheit in einem elektrischen Stromkreis. Sie ist die Kraft, die den elektrischen Strom durch einen Leiter treibt.
+
+Hinweis: Die Spannung wird in Volt (V) gemessen und stellt die potenzielle Energiedifferenz zwischen zwei Punkten in einem Stromkreis dar. Je höher die Spannung ist, desto größer ist die Kraft, die die elektrischen Ladungen antreibt, und desto höher ist folglich auch das Potenzial für einen Stromfluss.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Beschleunigungsspannung + c, Extraktionsspannung + c + +
+
+ Spektrometerc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Spectrometer
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+ Ein Instrument zur Messung der Eigenschaften von Licht in einem bestimmten Teil des elektromagnetischen Spektrums.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
- hat Sub-Klassen +
- + Röntgenemissionsspektrometer mit weicher Röntgenstrahlung + c + +
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+ Spektroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Spectroscopy
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+ Spectroscopy is a scientific technique used to study and analyze the interaction of matter with electromagnetic radiation, such as light. It involves measuring the way in which different substances absorb, emit, or scatter light at various wavelengths or frequencies. By examining the spectrum of light emitted, absorbed, or transmitted by a sample, scientists can gain insights into its chemical composition, molecular structure, and physical properties. Spectroscopy is widely utilized in various fields, including chemistry, physics, astronomy, and biochemistry, to investigate the characteristics and behavior of materials at the atomic and molecular level.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + analysing process + +
- hat Sub-Klassen +
- + Auger-Elektronen-Spektroskopie + c, Elektronenenergieverlustspektroskopie + c, Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie + c, Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie + c, Röntgenabsorptionsspektroskopie im Nahbereich + c, Sekundärionen-Massenspektrometrie + c + +
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+ Sphärische Aberrationc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SphericalAberration
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+ Eine Art von optischer Aberration, die durch Abweichungen von der idealen sphärischen Form in Linsen oder Spiegeln verursacht wird.
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+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
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- hat Super-Klassen +
- + Aberration + c + +
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+ Strahlc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Beam
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+ Ein Strom von Elektronen, der von der Elektronenquelle emittiert und auf die Probe in einem Elektronenmikroskop gerichtet wird.
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+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
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- hat Super-Klassen +
- + object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Einfallender Strahl + c, Elektronensonde + c, Elektronenstrahl + c, Fokussierter Strahl + c, Ionenstrahl + c, Kohärenter Strahl + c, Monochromatischer Strahl + c, Primärstrahl + c + +
+
+ Strahlengangc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamPath
+
+ Die Flugbahn des Elektronenstrahls auf seinem Weg durch das Elektronenmikroskop von der Elektronenquelle zur Probe und dann zum Detektor.
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+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + object + +
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+ Strahlstromc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamCurrent
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+ Die Intensität des Elektronenstrahls, gemessen als Anzahl der Elektronen, die eine bestimmte Fläche pro Zeiteinheit durchdringen.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Strom + c + +
+
+ Strahlungsenergiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamEnergy
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+ Die Energie eines Teilchen- oder Photonenstrahls, der in verschiedenen Analyseverfahren verwendet wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
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- hat Super-Klassen +
- + Energie + c + +
+
+ Stromc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Current
+
+ Der Strom wird normalerweise in Ampere (A) gemessen.
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+ Der Fluss der elektrischen Ladung.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Emissionsstrom + c, Glühfadenstrom + c, Sondenstrom + c, Strahlstrom + c + +
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+ Szintillatorc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Scintillator
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+ Ein Material, das Licht aussendet, wenn es ionisierende Strahlung absorbiert.
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+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
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- hat Super-Klassen +
- + processing node + +
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+ Tomographische Rekonstruktionc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TomographicReconstruction
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+ Der Prozess der Rekonstruktion einer dreidimensionalen Struktur aus einer Reihe von zweidimensionalen Bildern, die aus verschiedenen Winkeln aufgenommen wurden.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rekonstruktion + c + +
+
+ transmission electron microscopyc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TransmissionElectronMicroscopy
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+ Transmission Electron Microscopy is a microscopy technique that involves transmitting a beam of electrons through a thin sample to create high-resolution images. It is used to study the internal structure and morphology of materials at the nanometer scale.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + electron microscopy + +
- hat Sub-Klassen +
- + Dynamische Transmissionselektronenmikroskopie + c, Elektronentomographie + c, Hellfeld-Transmissionselektronenmikroskopie + c, Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie + c, Rastertransmissionselektronenmikroskopie + c, Umgebungs-Transmissionselektronenmikroskopie + c + +
+
+ Transmissionelektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TransmissionElectronMicroscope
+
+ Ein Mikroskop, das einen Elektronenstrahl durch eine Probe sendet und ein Bild erzeugt.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + electron microscope + +
- hat Sub-Klassen +
- + Elektronentomograph + c, Energiegefiltertes Transmissionselektronenmikroskop + c, Hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop + c, Kryo-Transmissionselektronenmikroskop + c, Rastertransmissionselektronenmikroskop + c, Transmissionselektronen-Aberrations-korrigiertes Mikroskop + c + +
+
+ Transmissionselektronen-Aberrations-korrigiertes Mikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TransmissionElectronAberrationCorrectedMicroscope
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+ Ein Transmissions-Elektronenmikroskop mit Aberrationskorrektur zur Erzielung hochauflösender Bilder.
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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- hat Super-Klassen +
- + Transmissionelektronenmikroskop + c + +
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+ Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnvironmentalScanningElectronMicroscopy
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+ Environmental Scanning Electron Microscopy is a technique that allows imaging of samples in a gaseous environment. It is particularly useful for observing hydrated or non-conductive samples without the need for extensive sample preparation.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
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- hat Super-Klassen +
- + Rasterelektronenmikroskopie + c + +
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+ Umgebungs-Transmissionselektronenmikroskopiec + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnvironmentalTransmissionElectronMicroscopy
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+ Environmental Transmission Electron Microscopy allows imaging and analysis of materials in controlled gaseous environments, simulating real-world conditions.
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+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
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+
- hat Super-Klassen +
- + transmission electron microscopy + c + +
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+ Umwelt-Rasterelektronenmikroskopc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnvironmentalScanningElectronMicroscope
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+ Eine Art Elektronenmikroskop, das nicht leitende Proben in ihrem natürlichen Zustand abbilden kann.
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+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Rasterelektronenmikroskop + c + +
+
+ Vergrößerungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Magnification
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+ Das Verhältnis zwischen der Größe eines von einem optischen System erzeugten Bildes und der Größe des Objekts.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
+
+ Verweilzeitc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DwellTime
+
+ Die Zeitspanne, in der der Elektronenstrahl während der Bildgebung oder Analyse auf einen bestimmten Punkt oder einen interessierenden Bereich der Probe fokussiert wird.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + duration + +
+
+ Volumenc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Volume
+
+ Die Menge an Raum, die ein Stoff oder Gegenstand einnimmt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Überlagerungsvolumen + c + +
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+ Wartezeitc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/WaitTime
+
+ Die Wartezeit wird häufig genutzt, um die Probe zu stabilisieren oder um die Beschädigung der Probe zu minimieren.
+
+
+ Das Zeitintervall zwischen aufeinander folgenden Messungen oder Operationen in einem Elektronenmikroskop.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + duration + +
+
+ Winkelc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Angle
+
+ In der Geometrie und Trigonometrie ist ein Winkel ein Maß für eine Drehung, das erforderlich ist, um eine Linie oder Ebene mit einer anderen zur Deckung zu bringen. Ein Winkel wird durch zwei Strahlen gebildet, die einen gemeinsamen Endpunkt haben, der als Scheitelpunkt des Winkels bezeichnet wird. Die Strahlen werden als die Seiten des Winkels bezeichnet.
+
+Hinweis: Das Konzept des Winkels ist in der Geometrie von grundlegender Bedeutung und wird häufig verwendet, um die relative Ausrichtung von Linien, Ebenen oder Flächen zu beschreiben. Winkel werden in der Regel in Grad (°) oder Bogenmaß (rad) gemessen.
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+ -
+
- hat Super-Klassen +
- + value object + +
- hat Sub-Klassen +
- + Konvergenzwinkel + c + +
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+ X-ray Diffractionc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
+Röntgenbeugungc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayDiffraction
+
+ X-ray Diffraction is a technique that utilizes the diffraction of X-rays by crystals to determine their atomic arrangement and lattice structure. X-ray diffraction patterns are produced when X-rays strike a crystalline sample, and the resulting pattern provides information about the arrangement of atoms in the crystal lattice.
+
+ -
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- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Diffraktion + c + +
+
+Überlagerungsvolumenc + zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/InteractionVolume
+
+ Der Bereich innerhalb einer Probe, in dem ein Teilchenstrahl mit dem Material in Wechselwirkung tritt.
+
+ -
+
- ist definiert durch +
- + https://w3id.org/pmd/mo + +
-
+
- hat Super-Klassen +
- + Volumen + c + +
+
Anmerkungseigenschaften
+-
+
- + + abbreviation + + +
- + + abbreviation + + +
+
+ abbreviationap + zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/co/abbreviation
+
+
+abbreviationap + zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften + +
++ IRI: https://w3id.org/pmd/mo/abbreviation
+
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+Legende zurück zu ToC
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+c: Klassen
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++
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+Danksagung zurück zum Inhaltsverzeichnis
++Die Autoren bedanken sich beiSilvio Peroni für die Entwicklung von LODE, einer Umgebung zur Live-OWL-Dokumentation, die im Abschnitt Querverweise für die Darstellung verwendet wird, bei Daniel Garijo für die Entwicklung von Widoco, welches für die Templates in dieser Anwendung verwendet wird.
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